Analisator fitur medan dekat VCSEL VNF-200 dirancang khusus untuk analisis fitur medan dekat permukaan VCSEL, dengan kecepatan pengukuran yang cepat, resolusi optik yang tinggi, dan akurasi pengukuran yang tinggi. Instrumen menggunakan sistem mikrooptik yang digabungkan dengan sistem pencitraan, dan mengoptimalkan desain berdasarkan karakteristik VCSEL untuk mencapai analisis radiasi pencitraan mikroskop VCSEL dengan tingkat pembesaran tinggi. Dapatkan susunan array 2D permukaan VCSEL, deteksi titik buruk, dan data kecerahan radiasi melalui pengukuran tunggal, sambil mendapatkan ukuran titik tunggal. Dilengkapi dengan perangkat lunak analisis khusus untuk mengeluarkan laporan uji yang sesuai dengan standar. Untuk analisis cepat dan akurat karakteristik permukaan VCSEL di jalur produksi dan laboratorium.